产品介绍：翻盖式测试座为基础的通用款测试治具，外壳采用铝合金材质精密翻盖结构，开合顺畅、对位精准，人工放取便捷。内部放置浮动下压、双头探针结构。压力均匀，有效防止芯片虚接、压伤、保障测试信号稳定。
材料工艺：采用高强度耐高温材质，耐磨不变形、故障率低。
适用环境：适配BGA/QFP/SOP/PLCC等。适用于研发调试、样品测试、小批量烧录与常规老化测试，实验室及中小批量测试的经济型[敏感词]。
产品特点：操作极简、高通用性、高性价比。
使用寿命：5w-10w+
设备参数：电流：10A，频率20GHZ
