天瑞通 Tianruitong
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产品介绍：双扣测试座采用合金双重对称卡扣结构，锁紧力度强、锁止稳固，可彻底解决高温老化、长时间测试中芯片松动、移位、信号中断等问题。多点均衡施压设计，全域接触均匀，大幅提升测试数据稳定性。
材料工艺：卡扣耐疲劳、开合寿命长，底座耐高温阻燃。
适用环境：可适配长期连续通电测试。兼容BGA、QFN、LGA等多类封装，主打高负荷老化测试、寿命可靠性测试、大批量稳定烧录场景。
产品特点：双重锁紧、稳固防松、耐疲劳、适配久测。
使用寿命：5w-10w+
设备参数：电流10A，频率20GHZ
