芯片测试座
SOCKET-老化座
设备描述
芯片老化座,英文通常称为 Burn-in Socket 或 Test Socket,是一种专门设计用于芯片老化测试 和高温寿命测试 的特殊连接器。
设备参数
高温:通常在125°C至150°C。
高电压:高于正常工作电压,以施加电应力。
详细介绍
筛选出“早期失效”的芯片,确保交付给客户的芯片具有极高的可靠性,满足汽车、医疗、航空航天、数据中心等高要求领域的标准。
· 原理:根据“浴盆曲线”理论,产品的失效率在生命初期和末期较高。老化测试就是为了剔除掉那些初期就容易坏的芯片。
产品中心
联系方式
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